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- O3PIA6 accessRights PUBLIC @default.
- O3PIA6 bibliographicCitation "De Smedt, Stijn; Cardinaels, Ruth; Evens, Brecht; Patrinos, Panos; Ravichandran, Pramod, 2025, "Replication Data for: "SMaRT Stacking: a Methodology to Produce Optimally Layered EMI Shields with Maximal Green Index using Fused Deposition Modeling"", https://doi.org/10.48804/O3PIA6, KU Leuven RDR, V1" @default.
- O3PIA6 created "2025-07-09T07:11:48Z" @default.
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- O3PIA6 description "Measurements of S-parameters obtained with a Vector Network Analyzer (VNA) in the X-band frequency range (8 - 12 GHz) to train the permittivity function of PLA/MWCNT nanocomposites produced via Fused Deposition Modeling (FDM). VNA measurements of the optimal stacks are also included." @default.
- O3PIA6 description "Messungen von S-Parametern, die mit einem Vector Network Analyzer (VNA) im X-Band-Frequenzbereich (8 - 12 GHz) erhalten wurden, um die Permittivitätsfunktion von PLA/MWCNT-Nanokomposite zu trainieren, die über Fused Deposition Modeling (FDM) hergestellt werden. VNA-Messungen der optimalen Stacks sind ebenfalls enthalten." @default.
- O3PIA6 description "Mesures des paramètres S obtenus avec un analyseur de réseau vectoriel (VNA) dans la gamme de fréquences en bande X (8-12 GHz) pour entraîner la fonction de permittivité des nanocomposites PLA/MWCNT produits via la modélisation des dépôts fondus (FDM). Les mesures VNA des piles optimales sont également incluses." @default.
- O3PIA6 description "Metingen van S-parameters verkregen met een Vector Network Analyzer (VNA) in het X-band frequentiebereik (8 - 12 GHz) om de permittiviteitsfunctie van PLA/MWCNT nanocomposieten geproduceerd via Fused Deposition Modeling (FDM) te trainen. VNA-metingen van de optimale stacks zijn ook inbegrepen." @default.
- O3PIA6 identifier "doi:10.48804/O3PIA6" @default.
- O3PIA6 issued "2025-07-10T11:30:49Z" @default.
- O3PIA6 language ENG @default.
- O3PIA6 modified "2025-07-10T11:30:49Z" @default.
- O3PIA6 publisher 0419052173 @default.
- O3PIA6 subject "(Bio)chemical engineering" @default.
- O3PIA6 subject "Engineering and technology" @default.
- O3PIA6 subject "Materials engineering" @default.
- O3PIA6 title "Données de réplication pour: «SMaRT Stacking: une méthodologie pour produire des boucliers EMI à couches optimales avec un indice vert maximal à l’aide de la modélisation des dépôts fondus»" @default.
- O3PIA6 title "Replicatiegegevens voor: "SMaRT Stapelen: een methode om optimaal gelaagde EMI-schilden te produceren met een maximale groene index met behulp van gesmolten afzettingsmodellering"" @default.
- O3PIA6 title "Replication Data for: "SMaRT Stacking: a Methodology to Produce Optimally Layered EMI Shields with Maximal Green Index using Fused Deposition Modeling"" @default.
- O3PIA6 title "Replikationsdaten für: „SMaRT Stacking: eine Methodik zur Herstellung optimal geschichteter EMI-Schilde mit maximalem grünen Index unter Verwendung von Fused Deposition Modeling" @default.
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